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Band 72 - TLS 2013
Besondere Herausforderungen erfordern kombinierte 3D-Scansysteme und Messtechniken

Ann-Kathrin Kinscher

Besondere Herausforderungen erfordern kombinierte 3D-Scansysteme und Messtechniken

TLS 3d-Scanssysteme Messtechniken
Erschienen in: DWV-Schriftenreihe Band 72

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